На рисунке показана схема простого тестера для транзисторов, который может определить годность биполярных транзисторов различной структуры (p-n-p, n-p-n). На элементах DD1.1, DD1.2 и DD1.3 выполнен генератор, работающий на частоте 1 кГц. Проверка транзисторов различной структуры без переключения возможна благодаря подаче на эмиттер и коллектор испытуемого транзистора то низкого, то высокого потенциала, что эквивалентно смене полярности […]
Просмотров: 4 793 | Читать статью |