На рисунке показана схема простого тестера для транзисторов, который может определить годность биполярных транзисторов различной структуры (p-n-p, n-p-n).
Схема тестера для биполярных транзисторов
На элементах DD1.1, DD1.2 и DD1.3 выполнен генератор, работающий на частоте 1 кГц. Проверка транзисторов различной структуры без переключения возможна благодаря подаче на эмиттер и коллектор испытуемого транзистора то низкого, то высокого потенциала, что эквивалентно смене полярности питающего напряжения. Приложенное напряжение обратной полярности между эмиттером и коллектором транзистора не превышает 2,4-3,6 В и не может вывести переходы транзистора из строя.
Импульсы с генератора с частотой в 5 кГц собранного на DD2 поступают на базу испытуемого транзистора. В зависимости от структуры транзистора зажигается либо светодиод HL1, либо HL2.
Источник — Партин А.И. Популярно о цифровых микросхемах (1989)
Загрузка...