При регулировке и настройке электронной аппаратуры применяют вспомогательные устройства: индикаторы состояний, «прозвоночные” приборы и тестеры, с помощью которых выполняют различные операции: от простейшей – по проверке целостности цепей до сложной – по измерению параметров радиоэлементов. Сложные тестеры необходимы, когда выполнена проверка работоспособности радиоэлемента и необходимо уточнить значения его параметров.
Оценку работоспособности радиоэлемента в большинстве случаев производят по критерию «годен/не годен”. В этом случае удобно применять достаточно простые приборы.
Предлагаю несложный тестер, оценивающий по вышеприведенному критерию работоспособность интегральных операционных усилителей, светодиодов, диодов и биполярных транзисторов. Электрическая принципиальная схема устройства показана на рисунке.
Интегральные микросхемы (ИМС) операционных усилителей (ОУ) проверяют на переключение напряжения на выходе, биполярные транзисторы – на тип проводимости, отсутствие короткого замыкания коллектор-эмиттер, а светодиоды и диоды – на целостность p-n-перехода и маркировку выводов. Полученной информации достаточно на этапе отбора тестируемых радиоэлементов для выполнения операций сборки и монтажа.
Электропитание тестера осуществляется от двух источников питания 6…9 В с током нагрузки не менее 30 мА. Для автономного варианта тестера возможно применение 9-вольтовых батарей.
Проверку ИМС ОУ производят установкой проверяемой микросхемы в соединительную колодку X1 (для ИМС в корпусе типа 2-DIP – PC8, PC14), соблюдая маркировку выводов и установив перемычку «1” в гнезда «К” и «Э”. Проверяемая ИМС ОУ работает в режиме релаксационного генератора с периодом колебаний: Т=4R3C1R1/(R1+R2).
Так как ОУ работает в нелинейном режиме, то не требуется частотная коррекция. Соотношение между R1 и R2 может быть любым. Однако желательно, чтобы R1=R2, что улучшает условия переключения. При приведенных в схеме (см. рисунок) номиналах радиоэлементов период колебаний составит около 0,35 с. При высоком уровне напряжения на выходе ОУ вспыхивает светодиод HL1 (красного цвета свечения), при низком уровне – светодиод HL2 (зеленого цвета свечения).
Для выполнения проверок светодиодов, диодов и биполярных транзисторов в
соединительную колодку устанавливают заведомо исправную ИМС ОУ. В гнезда «Б”, «Э” и «К” устанавливают проверяемый транзистор, согласно маркировке выводов. Если транзистор структуры p-n-p – вспыхивает светодиод HL2, если транзистор структуры n-p-n – светодиод HL1. При обрыве перехода коллектор-эмиттер светодиоды HL1 и HL2 не вспыхивают, при коротком замыкании – светодиоды HL1 и HL2 вспыхивают поочередно.
Проверку светодиодов и диодов производят установкой элемента в гнезда «К” и «Э”. При подключении анодного вывода элемента в гнездо «К” вспыхивает светодиод HL1, а при подключении катодного вывода – светодиод HL2. При проверке светодиодов они вспыхивают синхронно со светодиодами HL1 и HL2. При пробое p-n-перехода светодиоды HL1 и HL2 не вспыхивают, а при коротком замыкании перехода – вспыхивают поочередно.
Проверку всех элементов выполняют при нажатой кнопке SB1. Для расширения возможностей тестера по проверке ИМС ОУ с другой разводкой выводов можно выводы соединительной розетки X1 и элементов R1, R3 и C1 вывести на гнезда. Выполняя коммутацию этих гнезд согласно схеме (см. рисунок), можно проверять элементы ИМС ОУ с различными разводками выводов.
Литература
ж. Радiоматор 2005\12 Автор:В.Ю. Демонтович, г. Киев
Загрузка...