| Ваш IP: 23.22.58.239 | Online(18) - гости: 13, боты: 5 | Загрузка сервера: 2.98 ::::::::::::

Категория – Метрология, стандартизация и сертификация

Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии

Крутиков Владимир Николаевич, Анашина О. Д., Андрюшечкин О. Д. Освещаются методы и средства метрологического обеспечения нанотехнологий и аналитического контроля наноматериалов. Рассмотрены меры по обеспечению единства измерений в Российской Федерации, ведущие тенденции развития нанотехнологий за рубежом и в России, обосновано формирование инфраструктуры центра метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологий и продукции наноиндустрии. Описаны методы и средства метрологического обеспечения исследований нанотехнологий и оценки соответствия продукции наноиндустрии. Раскрыты прикладные вопросы метрологического обеспечения реализованных проектов в отдельных областях наноиндустрии в рамках Федеральной целевой программы "Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008-2011 годы".
Для специалистов центров стандартизации и метрологии, метрологических служб предприятий, поверителей, сотрудников санитарно-эпидемиологической службы, проходящих переподготовку и приобретающих дополнительную квалификацию в Академии стандартизации, метрологии и сертификации Росстандарта. Будет полезна студентам вузов, получающим образование в области нанотехнологий и нанометрологии. Подробнее…

Загрузка...
Просмотров: 46 Подробнее

Основы метрологии динамических измерений. Учебное пособие для вузов

Пронкин Николай Степанович Излагаются основные положения метрологии как науки об измерениях, методах достижения их единства и требуемой точности. Подробно рассматривается измерение физических величин, при этом основное внимание уделяется определению динамических погрешностей при измерении различного рода входных сигналов, а также способам оптимизации динамических характеристик средств измерения по погрешности и быстродействию. Пособие написано в соответствии с программой учебной дисциплины "Основы метрологии динамических измерений".
Для студентов высших учебных заведений, обучающихся техническим специальностям, аспирантов, научных работников и инженеров, занимающихся вопросами измерений физических величин в динамике. Подробнее…

Загрузка...
Просмотров: 55 Подробнее

Нанометрология. Монография

Сергеев Алексей Георгиевич Содержит основные сведения по метрологическому обеспечению наноиндустрии. Рассмотрены становление нанометрологии в XX-XXI вв. и концепции ее развития. Подробно изложены современные основы технического обеспечения нанометрологии. Освещены вопросы нестабильности, точности и неопределенности наноизмерений. Особое внимание уделено основным метрологическим операциям — поверке и калибровке. Материал по сканирующей зондовой микроскопии изложен на основе семи современных стандартов, введенных в 2008-2009 гг. Описаны организационные принципы нанометрологии, системы Гостехрегулирования через сеть региональных отделений вновь созданного Центра метрологического обеспечения нанотехнологий и отраслевых научно-исследовательских институтов. Приведен перечень вузов, работающих в сфере наноиндустрии, и указаны основные направления их исследований в данной области.
Для ученых, инженеров и других специалистов, разрабатывающих проблемы нанометрологии. Может использоваться в учебном процессе вузов при подготовке кадров в сфере нанотехнологий, метрологии и технического регулирования, а также в магистратуре и аспирантуре в этих научно-технических областях. Подробнее…

Загрузка...
Просмотров: 45 Подробнее

Метрология. История, современность, перспективы. Учебное пособие

Сергеев Алексей Георгиевич Изложено основное содержание метрологии как науки. Показаны ее становление, роль в развитии науки, техники, производства и общества. Раскрыты основные понятия метрологии, положения Международной системы единиц, рассмотрены вопросы обеспечения единства измерений в стране, а также прогнозирования путей развития метрологии.
Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению "Стандартизация, сертификация и метрология" и специальности "Метрология и метрологическое обеспечение". Может представлять интерес для специалистов, использующих в своей деятельности средства и результаты измерений.
2-е издание. Подробнее…

Загрузка...
Просмотров: 40 Подробнее

Сертификация

Сергеев А. Г. Изложены научно-технические, нормативно-методические и организационные основы сертификации продукции и услуг в соответствии с требованиями Федерального закона "О техническом регулировании". Особое внимание уделено вопросам оценки и подтверждения соответствия и роли сертификации в различных отраслях экономики страны. С целью гармонизации работ в области метрологии, стандартизации и сертификации подробно рассмотрены методология и практика сертификации за рубежом. Для студентов вузов, обучающихся по направлениям (специальностям) "Метрология, сертификация и стандартизация" и "Управление качеством". Подробнее…

Загрузка...
Просмотров: 43 Подробнее

Основы метрологии. Практикум по метрологии и измерениям. Учебное пособие для вузов

Пронкин Николай Степанович Приводятся различные примеры и задачи по основным теоретическим разделам метрологии как учения об измерении любых физических величин. Поскольку метрология широко применяется во всех областях промышленности и науки, решение задач помогает разобраться в физической сущности процессов измерения и правильно интерпретировать их результаты.
Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению "Ядерная физика и технологии" и специальностям "Физика пучков заряженных частиц и ускорительная техника", "Ядерные реакторы и энергетические установки", "Электроника и автоматика физических установок". Может использоваться в учебном процессе по широкому кругу направлений и специальностей техники и технологий, связанных с приборостроением, электротехникой, автоматикой и электроникой. Представляет интерес для широкого круга специалистов, занимающихся вопросами измерения, самостоятельно изучающих метрологию.
Рекомендовано Учебно-методическим объединением по образованию в области ядерной физики и технологии в качестве учебного пособия для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению "Ядерная физика и технологии". Приводятся различные примеры и задачи по основным теоретическим разделам метрологии как учения об измерении любых физических величин. Подробнее…

Загрузка...
Просмотров: 42 Подробнее

Инженерные основы измерений нанометровой точности: Учебное пособие

Лич Ричард Книга известного специалиста Национальной Физической Лаборатории (NPL, Великобритания) последовательно рассматривает инженерные аспекты достижения нанометровой точности измерений перемещений и параметров рельефа поверхности, контроля параметров макрообъектов с помощью координатно-измерительных машин, различных зондовых, оптических и электронных средств измерений (включая вопросы обеспечения прослеживаемости измерений длины с помощью лазерной интерферометрии и калибровочных образцов). Также рассмотрены вопросы прецизионных измерений масс.
Для студентов и преподавателей технических университетов, специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков и исследователей. Подробнее…

Загрузка...
Просмотров: 385 Подробнее

Аппроксимационные методы и средства измерения параметров двухполюсных электрических цепей

Мелентьев Владимир Сергеевич, Батищев Виталий Иванович В книге рассматриваются методы и средства измерения параметров линейных двухполюсных электрических цепей по мгновенным значениям переходных процессов. Разработанные методы, алгоритмы и аппаратные средства построены на принципах аппроксимации исследуемых переходных процессов аналитическими моделями, определенными на основе априорной информации о свойствах объектов исследования. Они весьма эффективны при построении контрольно-измерительной аппаратуры для самых различных объектов исследования. Книга может быть полезна инженерам и научным работникам, занятым разработкой технических средств промышленных измерений, контроля, испытаний и автоматизацией измерительных экспериментов, а также аспирантам и студентам старших курсов. Подробнее…

Загрузка...
Просмотров: 194 Подробнее

Метрология поверхностей. Принципы, промышленные методы и приборы

Уайтхауз Дэвид Учебно-справочное руководство известного специалиста отражает как совершенствовавшиеся много десятилетий методы обработки и контроля качества поверхностей в машиностроении и оптическом приборостроении, так и достижения последних лет (включая новые способы описания характеристик и использование сканирующих микроскопов).
Для технических университетов и специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков. Подробнее…

Загрузка...
Просмотров: 379 Подробнее

Теория шкал. Принципы построения эталонных процедур измерения, кодирования и управления

Новиков Николай Юрьевич В книге изложен новый, достаточно общий и эффективный подход к проблемам измерения, кодирования и управления. Впервые в основу определений шкалы, единицы измерения, эталона и математических интерпретаций междисциплинарных теорий измерения, кодирования и управления положены фундаментальные конструкции анализа — фильтры Картана, направленности (обобщенные последовательности) Мура и Смита, методы теории множеств, топологии и функционального анализа. Полученные результаты применимы при построении шкал и создании эталонов в самых разнообразных классических и неклассических направлениях современной метрологии и теории управления, в математической и технической физике.
Для широкого круга специалистов и научных работников, использующих современные информационные технологии в области естественных, технических, биологических и социальных наук, а также для аспирантов и студентов высших учебных заведений.
2-е издание, исправленное и дополненное. Подробнее…

Загрузка...
Просмотров: 341 Подробнее
Стр. 2 из 812345...Последняя »